RAID阵列卡

发表于 2023-04-02 更新于 2022-03-30 分类于 iTech ，组装DIY 阅读次数： Waline：

RAID 种类及容错性能比较

RAID级别	RAID0	RAID1	RAID5	RAID6	RAID10
冗余类型	无	镜像	奇偶校验	双重奇偶校验	镜像
保护能力	不允许设备故障	允许一个设备故障	允许一个设备故障	允许坏2块	允许一组设备中一个故障
读性能	高	低	高	高	中间
写性能	高	低	一般	低	中
最少磁盘数	2	2	3	4	4
磁盘利用率	n	50%	(n-1)/n	(n-2)/n	50%

阵列卡品牌：

主流阵列卡：

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PCIE详解

发表于 2023-04-02 更新于 2022-03-29 分类于 iTech ，组装DIY 阅读次数： Waline：

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拆分卡

发表于 2023-04-02 更新于 2022-10-29 分类于 iTech ，组装DIY 阅读次数： Waline：

这种情况最简单且合理的办法是增加一块PCIE固态给ESXI使用，但缺点也比较明显

一是PCIE固态普遍价格贵，另一方面一块PCIE固态就要占用一个宝贵的PCIE插槽对整套家庭服务器的扩展性是毁灭打击。

因此在折腾家庭服务器时就不得不提PCIE拆分卡，但凡真上手折腾过家庭all in one的应该都明白PCIE通道数和PCIE插槽到底有多宝贵。

还搞不清楚PCIE通道数是啥的可以看我家庭服务器装机选型视频的科普。

简单概括，PCIE拆分卡一是实现了通道数的合理利用，二是解决了PCIE插槽的合理分配问题。比如中低端显卡接在X16通道上完全是浪费资源，这时候选择把显卡插在X8通道上；X16通道留给PCIE拆分卡，并由拆分卡将X16通道拆分成4个X4通道是不是合理性和拓展性直接上升一个大段，毕竟拆分成4个X4意味着原本主板上的X16插槽只能插1个设备，现在能插4个。此外对土豪玩家而言，PCIE拆分卡是件组固态RAID的神级装备。

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服务器配置选择

发表于 2023-04-02 更新于 2022-10-29 分类于 iTech ，组装DIY 阅读次数： Waline：

一、服务器

（一）Dell服务器

T系列（塔式）

单路：

1
2
3

TX0 E3
T1XX E3
T3XX E3 8盘

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电源购买指南

发表于 2023-04-02 更新于 2022-03-29 分类于 iTech ，组装DIY 阅读次数： Waline：

ATX电源评测排行https://www.fcpowerup.com/fcpmark/

电脑组装说明

发表于 2023-04-02 更新于 2022-10-29 分类于 iTech ，组装DIY 阅读次数： Waline：

电脑组装说明

一、CPU安装

二、安装内存+M.2固态

三、安装CPU散热

四、安装主板

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硬盘选择购买指南

发表于 2023-04-02 更新于 2022-07-08 分类于 iTech ，组装DIY 阅读次数： Waline：

一、Backblaze年度报告：

1	网址：https://www.backblaze.com/blog/

选择硬盘方法：

1、列出BackBlaze硬盘故障率报告中硬盘型号。

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硬盘SMART检测参数详解

发表于 2023-04-02 更新于 2022-03-29 分类于 iTech ，组装DIY 阅读次数： Waline：

一、SMART概述

　　硬盘的故障一般分为两种：可预测的（predictable）和不可预测的（unpredictable）。后者偶而会发生，也没有办法去预防它，例如芯片突然失效，机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况，可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。如果发生这种问题，SMART功能会在开机时响起警报，至少让使用者有足够的时间把重要资料转移到其它储存设备上。
　　最早期的硬盘监控技术起源于1992年，IBM在AS/400计算机的IBM 0662 SCSI 2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为Predictive Failure Analysis（故障预警分析技术）的监控技术，它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况，然后由监控软件得出两种结果：“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。

　　不久，当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe的类似技术。通过该技术，硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量值传送给操作系统和用户的监控软件中，每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。
　　1995年，康柏公司将该技术方案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进行标准化，该方案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的支持，1996年6月进行了1.3版的修正，正式更名为S.M.A.R.T.（Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology），全称就是“自我检测分析与报告技术”，成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。
　　作为行业规范，SMART规定了硬盘制造厂商应遵循的标准，满足SMART标准的条件主要包括：
　　1）在设备制造期间完成SMART需要的各项参数、属性的设定；
　　2）在特定系统平台下，能够正常使用SMART；通过BIOS检测，能够识别设备是否支持SMART并可显示相关信息，而且能辨别有效和失效的SMART信息；
　　3）允许用户自由开启和关闭SMART功能；
　　4）在用户使用过程中，能提供SMART的各项有效信息，确定设备的工作状态，并能发出相应的修正指令或警告。在硬盘及操作系统都支持SMART技术并且开启的情况下，若硬盘状态不良，SMART技术能够在屏幕上显示英文警告信息：“WARNING：IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE，A FAILURE MAY BE IMMINENT．”(警告：立刻备份你的数据并更换硬盘，硬盘可能失效。)
　　SMART功能不断从硬盘上的各个传感器收集信息，并把信息保存在硬盘的系统保留区(service area)内，这个区域一般位于硬盘0物理面的最前面几十个物理磁道，由厂商写入相关的内部管理程序。这里除了SMART信息表外还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。用户使用的监测软件通过名为“SMART Return Status”的命令（命令代码为：B0h）对SMART信息进行读取，且不允许最终用户对信息进行修改。

　　二、SMART的ID代码

　　硬盘SMART检测的ID代码以两位十六进制数表示（括号里对应的是十进制数）硬盘的各项检测参数。目前，各硬盘制造商的绝大部分SMART ID代码所代表的参数含义是一致的，但厂商也可以根据需要使用不同的ID代码，或者根据检测项目的多少增减ID代码。一般来说，以下这些检测项是必需的：
　　01（001）底层数据读取错误率 Raw Read Error Rate
　　04（004）启动/停止计数 Start/Stop Count
　　05（005）重映射扇区数 Relocated Sector Count
　　09（009）通电时间累计 Power-On Time Count (POH)
　　0A（010）主轴起旋重试次数（即硬盘主轴电机启动重试次数） Spin up Retry Count
　　0B（011）磁盘校准重试次数 Calibration Retry Count
　　0C（012）磁盘通电次数 Power Cycle Count

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